XRD-6100 島津X-射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 

可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密Ｘ射線結構解析等各種分析。

配備高精度垂直型測角儀，適用于粉末、薄膜、難于固定的樣品、易溶樣品等各種樣品的測定。

配備高精度垂直型測角儀，適用于粉末、薄膜、難于固定的樣品、易溶樣品等各種樣品的測定。

XRD-6100具有本質(zhì)安全結構。

只有門連鎖機構閉鎖時，X射線管才能開啟，具備高安全性。

配備高速運轉（1000°/min）及高精度角度重現(xiàn)性（±0.0001°）的垂直型測角儀，可進行各種樣品的測定。

驅動機構為獨立2軸驅動，可選擇θ-2θ聯(lián)動或θ、2θ軸獨立驅動，特別對薄膜測定行之有效。

備有豐富的附件（軟件/硬件）來滿足多種需要。

對應工業(yè)環(huán)境測定標準/工業(yè)環(huán)境評價標準修訂

X射線衍射儀XRD-6100 環(huán)境測定包

適合工業(yè)環(huán)境中的游離硅及石棉的定性/定量分析。